NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STAN DARD CEI IEC 61070 Première édition First edition 1991-11 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Procédures d'essai de conformité pour la disponibilité en régime établi Compliance test procedures for steady-state availability ftC• Numéro de référence Reference number CEI/IEC 61070: 1991 Numbering Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées partir de 60000 As from January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series Publications consolidées Consolidated publications Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles Par exemple, les numéros d'édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant l'amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements et Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment and the base publication incorporating amendments and Validité de la présente publication Validity of this publication Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état actuel de la technique The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue Les renseignements relatifs des questions l'étude et des travaux en cours entrepris par le comité technique qui a établi cette publication, ainsi que la liste des publications établies, se trouvent dans les documents cidessous: Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: ã ôSite webằ de la CEI* ã IEC web site* • Catalogue des publications de la CEI Publié annuellement et mis jour régulièrement (Catalogue en ligne)* • Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* • Bulletin de la CEI Disponible la fois au «site web» de la CEI* et comme périodique imprimé • IEC Bulletin Available both at the IEC web site* and as a printed periodical Terminologie, symboles graphiques et littéraux Terminology, graphical and letter symbols En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur se reportera la CEI 60050: Vocabulaire Électrotechnique International (V E I) For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV) Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical * Voir adresse «site web» sur la page de titre * See web site address on title page graphiques utilisables sur le matériel Index, relevé et compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Symboles graphiques pour schémas symbols for use on equipment Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Numéros des publications NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STAN DARD CEI IEC 61070 Première édition First edition 1991-11 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Procédures d'essai de conformité pour la disponibilité en régime établi Compliance test procedures for steady-state availability © IEC 1991 Droits de reproduction réservés — Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland International Electrotechnical Commission e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http: //www.iec.ch Telefax: +41 22 919 0300 IEC • Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Me nyHapogHa8 3neKTpoTexHH4ecrtaR HOMHCCHA • CODE PRIX PRICE CODE U Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- 1070 C) SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS INTRODUCTION Articles Domaine d'application Références normatives 10 Symboles 10 Conditions pour les essais de disponibilité 5.1 Gestion et spécification de la sûreté de fonctionnement 5.2 Hypothèses concernant le processus statistique 5.3 Définition des états 5.4 Classification des temps 5.5 Classification des défaillances 5.6 Conditions d'essai 12 12 14 14 16 16 18 Acquisition de données 20 Distribution des temps 7.1 Hypothèses de distribution 7.2 Essai de tendance 7.3 Solution de rechange en cas d'infirmation des hypothèses 22 22 24 26 Planification d'un essai de conformité 26 Plans d'essai de conformité 9.1 Plan d'essai - Nombre fixe de défaillances 9.2 Plan d'essai - Temps fixe, de durée supérieure 15 fois le temps moyen de disponibilité 9.3 Plan d'essai -Temps fixe (U < 0,05) 9.4 Plan d'essai - Essai progressif 26 26 10 Rapport d'essai 32 32 34 36 10.1 Feuilles de fonctionnement et d'enregistrement des données 10.2 Rapports de défaillance 10.3 Etat récapitulatif des défaillances 10.4 Etat récapitulatif des éléments de remplacement et des pièces détachées défaillantes (facultatif) 10.5 Rapport final 28 28 30 38 38 Annexes A Tableaux A.1 A.4 40 B Exemples numériques 48 C Bibliographie 52 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Définitions C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070©IEC -3- CONTENTS Page FOREWORD INTRODUCTION Clause Scope Normative references 11 Symbols 11 Conditions for availability pe rforman ce testing 5.1 Dependability management and specification 5.2 Statistical process conditions 5.3 Definition of states 5.4 Classificati on of times 5.5 Classification of failures 5.6 Test conditions 13 13 15 15 17 17 19 Data collection 21 Time distributions 7.1 Distribution assumptions 7.2 Trend test 7.3 Decision alte rn atives in case of non-validity of assumptions 23 23 25 27 Compliance testing planning 27 Compliance test plans 9.1 Test plan - Fixed number of failures 9.2 Test plan - Fixed time longer than 15 mean up times 27 9.3 Test plan - Fixed time (U < 0,05) 9.4 Test plan - Sequential test 10 Test repo rt 10.1 Test logs and data records 10.2 Failure reports 10.3 Failure summary record 10.4 Replace ment units and spare parts inventory (optional) 10.5 Final repo rt 27 29 29 31 33 33 35 37 39 39 Annexes A Tables A.1 to A.4 41 B Numerical examples 49 C Bibliography 52 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Definitions C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an -4- 1070©CEI COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE PROCÉDURES D'ESSAI DE CONFORMITÉ POUR LA DISPONIBILITÉ EN RÉGIME ÉTABLI AVANT-PROPOS 2) Ces décisions constituent des recommandations internationales et sont agréées comme telles par les Comités nationaux 3) Dans le but d'encourager l'unification internationale, la CEI exprime le voeu que tous les Comités nationaux adoptent dans leurs règles nationales le texte de la recommandation de la CEI, dans la mesure où les conditions nationales le permettent Toute divergence entre la recommandation de la CEI et la règle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, être indiquée en termes clairs dans cette dernière La présente Norme internationale a été établie par le Comité d'Etudes n° 56 de la CEI: Sûreté de fonctionnement Le texte de cette norme est issu des documents suivants: DIS Rapport de vote 56(BC)166 56(BC)187 Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti l'approbation de cette norme L'annexe A fait partie intégrante de la présente Norme internationale Les annexes B et C sont données uniquement titre d'information Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 1) Les décisions ou accords officiels de la CEI en ce qui concerne les questions techniques, préparés par des Comités d'Etudes où sont représentés tous les Comités nationaux s'intéressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examinés C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070©IEC —5— INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMPLIANCE TEST PROCEDURES FOR STEADY-STATE AVAILABILITY FOREWORD 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense 3) In order to promote international unification, the IEC expresses the wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter This International Standard has been prepared by IEC Technical Committee No 56: Dependability The text of this standard is based on the following documents: DIS Report on Voting 56(CO)166 56(CO)187 Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the Voting Repo rt indicated in the above table Annex A forms an integral pa rt of this International Standard Annexes B and C are for information only Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an -6- 1070©CEI INTRODUCTION Les prescriptions relatives la sûreté de fonctionnement peuvent être exprimées, soit par des mesures des caractéristiques individuelles: fiabilité, maintenabilité et logistique de maintenance, soit par des mesures de la disponibilité Les mesures de disponibilité comprennent, sans s'y limiter, les caractéristiques de disponibilité suivantes: instantanée, moyenne, asymptotique, moyenne asymptotique et en régime établi, ainsi que la durée cumulée moyenne d'indisponibilité, telles qu'elles sont définies dans la CEI 50(191) La préférence qui peut être accordée ces mesures ainsi que leur application varient selon les secteurs industriels et les produits, entre autres en fonction de l'application du produit et des besoins de l'utilisateur final Pour la validation d'une prescription donnée, on utilise souvent des essais de conformité qui sont effectués, soit dans des conditions simulées, soit dans des conditions réelles Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Pour exprimer une prescription, il est souvent possible de passer, par conversion, d'un type de mesure un autre; par exemple, une prescription de durée cumulée moyenne d'indisponibilité en régime établi peut être transformée en une prescription de disponibilité en régime établi C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070 ©IEC -7INTRODUCTION Requirements on dependability may be expressed either in terms of measures of the individual characteristics reliability pe rformance, maintainability performance and maintenance suppo rt perf ormance, or by measures of availability performance Availability perf ormance measures include, but are not limited to, instantaneous, mean, asymptotic, asymptotic mean and steady-state versions of availability, and mean accumulated down time, as defined in IEC 50(191) The preference for and application of these measures vary from one industry sector to another and from one product to another, inter alia depending on product application and end user needs Validation of a specified requirement is often done by means of compliance testing under simulated or actual field conditions Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU A requirement expressed by one kind of measure may often be possible to convert to another For example a requirement for mean accumulated down time under steady-state, conditions may be translated into a requirement for steady-state availability C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an -8- 1070©CEI PROCÉDURES D'ESSAI DE CONFORMITÉ POUR LA DISPONIBILITÉ EN RÉGIME ÉTABLI Domaine d'application La présente Norme internationale spécifie les techniques permettant de tester les caractéristiques de disponibilité d'entités fréquemment maintenues quand la mesure de la disponibilité utilisée est, soit une disponibilité en régime établi, soit une indisponibilité en régime établi Elle est applicable aux essais de conformité de la disponibilité en régime établi Ces essais portent uniquement sur deux états des entités: état de disponibilité et état d'indisponibilité Les essais s'appliquent dans les conditions suivantes: 2) Tous les temps de disponibilité suivent une même distribution exponentielle NOTE - Cette condition implique généralement qu'avant le début de l'essai de conformité, le systốme ait fonctionnộ de faỗon prolongộe 3) Le temps de maintenance préventive ne doit pas être inclus dans le temps d'indisponibilité, même s'il est reconnu qu'il peut influer sur la disponibilité 4) II est nécessaire que tous les facteurs d'indisponibilité soient indiqués de manière explicite dans la spécification des exigences de l'essai 5) Les entités très fiables peuvent nécessiter un temps d'essai extrêmement long pour déterminer la conformité NOTE - Avec une entité de haute fiabilité, peu de défaillances ou même zéro défaillance peuvent se produire au cours d'une période de temps désigné Dans un tel cas, il y aura peu ou (peut-être) zéro information quantitative sur la disponibilité puisqu'il peut ne pas y avoir d'actions de réparation Il convient que les parties (fournisseur et client) qui appliqueront la présente norme se mettent d'accord sur la décision prendre lors d'une telle éventualité En général, il est recommandé qu'avant que les parties ne citent cette norme dans un contrat, elles calculent, ou simulent, les résultats obtenir partir de l'essai de conformitộ De cette faỗon, les deux parties seront bien informées en ce qui concerne les risques auxquels elles sont exposées 6) Les procédures d'essai de conformité utilisent la mesure complémentaire de l'indisponibilité en régime établi Références normatives Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente Norme internationale Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur Tout document normatif est sujet révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente Norme internationale sont invitées rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes des documents normatifs indiqués ci-après Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le registre des Normes internationales en vigueur CEI 50(191): 1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VE!), chapitre 191: Sûreté de fonctionnement et qualité de service CEI 68-2: Essais d'environnement - Deuxième partie: Essais CEI 300: 1984, Gestion de la fiabilité et de la maintenabilité Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 1) Une entité unique réparée C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070 ©CEI - 40 - Annexe A (normative) Tableaux A.1 A.4 Tableau A.1 - Distribution de F Fractiles d'ordre 0,80 v1 10 20 30 40 60 120 4,32 2,47 2,06 1,88 1,78 1,72 1,67 1,64 1,62 1,60 1,54 1,51 1,48 1,45 4,36 2,47 2,04 1,86 1,75 1,69 1,65 1,61 1,58 1,56 4,43 2,44 2,00 1,80 1,68 1,61 1,56 1,52 1,49 1,47 1,39 1,36 1,32 1,29 4,45 2,44 1,98 1,78 1,66 1,59 1,53 1,49 1,46 1,44 1,36 1,33 1,29 1,25 4,46 2,44 1,44 1,41 4,38 2,46 2,03 1,84 1,73 1,66 1,62 1,58 1,55 1,53 1,47 1,44 1,41 1,37 1,77 1,65 1,58 1,52 1,48 1,45 1,42 1,35 ,31 1,27 1,23 4,46 2,43 1,97 1,76 1,64 1,56 1,51 1,47 1,43 1,41 1,33 1,29 1,24 1,20 4,47 2,43 1,96 1,75 1,63 1,55 1,49 1,45 1,42 1,39 1,31 1,26 1,22 1,17 10 20 30 40 60 120 9,24 4,11 3,18 2,81 2,61 2,48 2,39 2,33 2,29 2,25 2,14 2,09 2,04 1,99 9,33 4,01 3,05 2,67 2,46 2,33 2,24 2,18 2,13 2,09 1,98 1,93 1,87 1,82 9,37 3,96 2,98 2,59 2,38 2,24 2,15 2,09 2,04 2,00 1,88 1,83 1,77 1,72 9,39 3,92 2,94 2,54 2,32 2,19 2,10 2,03 1,98 1,94 1,82 1,76 1,71 1,65 9,44 3,84 2,84 2,42 2,20 2,06 1,96 1,89 1,84 1,78 1,67 1,61 1,54 1,48 9,46 3,82 2,80 2,38 2,16 2,01 1,91 1,84 1,78 1,74 1,61 1,54 1,48 1,41 9,47 3,80 2,78 2,36 2,13 1,99 1,89 1,81 1,75 1,71 1,57 ,51 1,44 1,37 9,47 3,79 2,76 2,34 2,11 1,96 1,86 1,78 1,72 1,68 1,54 1,47 1,40 1,32 9,48 3,78 2,74 2,32 2,08 1,93 1,83 1,75 1,69 1,64 1,50 1,42 1,35 1,26 10 20 30 40 60 120 19,37 6,04 4,15 3,44 3,07 2,85 2,70 2,59 2,51 2,45 2,27 2,18 2,10 2,02 19,40 5,96 4,06 3,35 2,98 2,75 2,60 2,49 2,41 2,35 2,16 2,08 1,99 1,91 19,45 5,80 3,87 3,15 2,77 2,54 2,39 2,28 2,19 2,12 1,93 1,84 1,75 1,66 19,46 5,75 3,81 3,08 2,70 2,47 2,31 2,19 2,11 2,04 1,84 1,74 1,65 1,55 19,47 5,72 3,77 3,04 2,66 2,43 2,27 2,15 2,06 1,99 1,79 1,69 1,59 1,50 19,48 5,69 3,74 3,01 2,62 2,38 2,22 2,11 2,02 1,95 1,74 1,64 1,53 1,43 19,49 5,66 3,71 2,97 2,58 2,34 2,18 2,06 1,97 1,90 1,68 1,58 1,47 1,35 v2 4,00 2,47 2,13 1,98 1,90 1,85 1,81 1,78 1,76 1,75 1,70 4,24 2,48 2,09 1,92 1,83 1,77 1,73 1,70 1,67 1,65 1,60 1,57 1,55 1,52 1,68 1,65 1,63 Fractiles d'ordre 0,90 v1 1,50 1,47 1,98 v2 10 12 14 16 18 20 30 40 60 120 9,00 4,32 3,46 3,11 2,92 2,81 2,73 2,67 2,62 2,59 2,49 2,44 2,39 2,35 Fractiles d'ordre 0,95 v1 v2 10 12 14 16 18 20 30 40 60 120 19,00 6,94 5,14 4,46 4,10 3,89 3,74 3,63 3,55 3,49 3,32 3,23 3,15 3,07 19,25 6,39 4,53 3,84 3,48 3,26 3,11 3,01 2,93 2,87 2,69 2,61 2,53 2,45 19,33 6,16 4,28 3,58 3,22 3,00 2,85 2,74 2,66 2,60 2,42 2,34 2,25 2,17 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 10 12 14 16 18 20 30 40 60 120 C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070 ©IEC - 41 - Annex A (normative) Tables A.1 to A.4 Table A.1 - F distribution 0,80 fractiles v1 v2 4,00 2,47 2,13 1,98 1,90 1,85 1,81 1,78 1,76 1,75 1,70 1,68 1,65 1,63 0,90 fractiles y1 v2 10 12 14 16 18 20 30 40 60 120 9,00 4,32 3,46 3,11 2,92 2,81 2,73 2,67 2,62 2,59 2,49 2,44 2,39 2,35 0,95 fractiles v1 v2 10 12 14 16 18 20 30 40 60 120 19,00 6,94 5,14 4,46 4,10 3,89 3,74 3,63 3,55 3,49 3,32 3,23 3,15 3,07 10 20 30 40 60 120 4,24 2,48 2,09 1,92 1,83 1,77 1,73 1,70 1,67 1,65 1,60 1,57 1,55 1,52 4,32 2,47 2,06 1,88 1,78 1,72 1,67 1,64 1,62 1,60 1,54 1,51 1,48 1,45 4,36 2,47 2,04 1,86 1,75 1,69 1,65 1,61 1,58 1,56 1,50 1,47 1,44 1,41 4,38 2,46 2,03 1,84 1,73 1,66 1,62 1,58 1,55 1,53 1,47 1,44 1,41 1,37 4,43 2,44 2,00 1,80 1,68 1,61 1,56 1,52 1,49 1,47 1,39 1,36 1,32 1,29 4,45 2,44 1,98 1,78 1,66 1,59 1,53 1,49 1,46 1,44 1,36 1,33 1,29 1,25 4,46 2,44 1,98 1,77 1,65 1,58 1,52 1,48 1,45 1,42 1,35 1,31 1,27 1,23 4,46 2,43 1,97 1,76 1,64 1,56 1,51 1,47 1,43 1,41 1,33 1,29 1,24 1,20 4,47 2,43 1,96 1,75 1,63 1,55 1,49 1,45 1,42 1,39 1,31 1,26 1,22 1,17 10 20 30 40 60 120 9,24 4,11 3,18 2,81 2,61 2,48 2,39 2,33 2,29 2,25 2,14 2,09 2,04 1,99 9,33 4,01 3,05 2,67 2,46 2,33 2,24 2,18 2,13 2,09 1,98 1,93 1,87 1,82 9,37 3,96 2,98 2,59 2,38 2,24 2,15 2,09 2,04 2,00 1,88 1,83 1,77 1,72 9,39 3,92 2,94 2,54 2,32 2,19 2,10 2,03 1,98 1,94 1,82 1,76 1,71 1,65 9,44 3,84 2,84 2,42 2,20 2,06 1,96 1,89 1,84 1,78 1,67 1,61 1,54 1,48 9,46 3,82 2,80 2,38 2,16 2,01 1,91 1,84 1,78 1,74 1,61 1,54 1,48 1,41 9,47 3,80 2,78 2,36 2,13 1,99 1,89 1,81 1,75 1,71 1,57 1,51 1,44 1,37 9,47 3,79 2,76 2,34 2,11 1,96 1,86 1,78 1,72 1,68 1,54 1,40 1,32 9,48 3,78 2,74 2,32 2,08 1,93 1,83 1,75 1,69 1,64 1,50 1,42 1,35 1,26 10 20 30 40 60 120 19,33 6,16 4,28 3,58 3,22 3,00 2,85 19,37 6,04 4,15 3,44 3,07 2,85 2,70 2,59 2,51 2,45 2,27 2,18 2,10 2,02 19,40 5,96 4,06 3,35 2,98 2,75 2,60 2,49 2,41 2,35 2,16 2,08 1,99 1,91 19,45 5,80 3,87 3,15 2,77 2,54 2,39 2,28 2,19 2,12 1,93 1,84 1,75 1,66 19,46 5,75 3,81 3,08 2,70 19,47 5,72 3,77 3,04 2,66 2,43 19,48 5,69 3,74 3,01 2,62 2,38 2,22 2,11 2,02 1,95 1,74 1,64 1,53 1,43 19,49 5,66 3,71 2,97 2,58 2,34 2,18 2,06 1,97 1,90 1,68 1,58 1,47 1,35 19,25 6,39 4,53 3,84 3,48 3,26 3,11 3,01 2,93 2,87 2,69 2,61 2,53 2,45 2,74 2,66 2,60 2,42 2,34 2,25 2,17 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn 2,47 2,31 2,19 2,11 2,04 1,84 1,74 1,65 1,55 2,27 2,15 2,06 1,99 1,79 1,69 1,59 1,50 1,47 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 10 12 14 16 18 20 30 40 60 120 C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an - 42 - 1070 © CEI Tableau A.2 - Distribution normale centrée réduite Table A.2 - Standardized normal distribution 1-e u 0,80 0,90 0,95 0,842 1,282 1,645 1-a u1 -fi Table A.3 - Discrimination ratio (D) and rejection limit (Uiim ) for test plan Dans le tableau, la durée d'essai (T*) est exprimée en multiples du temps moyen de disponibilité prévu (me) de la valeur acceptable spécifiée pour l'indisponibilité en régime établi (U0) Les directives sur le choix d'un paramètre de forme p sont données en 7.1 Les niveaux de risque (a et f3) sont traités l'article Les détails sur le plan d'essai sont donnés en 9.3 In the table, the test time (T*) is expressed in multiples of the predicted mean up time (mu) of the specified acceptable value of the steady-state unavailability (U ) Guidelines on the selection of the shape parameter p are given in 7.1 The risk levels (a and j3) are dealt with in clause Details on test plan are given in 9.3 p=1 a =13 =0,05 T* /mu D 1,0 1,2 1,4 1,6 1,8 2,0 2,5 3,0 3,5 4,0 5,0 6,0 7,0 8,0 9,0 10,0 15,0 20,0 24,72 20,01 16,88 14,66 13,01 11,73 9,52 8,12 7,15 6,44 5,46 4,82 4,36 4,02 3,75 3,53 2,88 2,53 a Ulim/ D Uo 3,92 3,64 3,42 3,24 3,10 2,98 2,75 2,58 2,45 2,34 2,19 2,07 1,99 1,92 1,86 1,81 1,65 1,56 15,01 12,39 10,64 9,38 8,44 7,70 6,42 5,59 5,01 4,58 3,98 3,58 3,29 3,07 2,90 2,76 2,33 2,10 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn =(3 =0,10 a =i3 =0,20 Ullm/ Uo 2,91 2,75 2,63 2,52 2,44 2,36 2,22 2,11 2,03 1,96 1,86 1,78 1,72 1,67 1,63 1,60 1,49 1,42 D 7,37 6,30 5,56 5,03 4,63 4,31 3,74 3,37 3,10 2,90 2,61 2,42 2,28 2,17 2,08 2,01 1,78 1,65 UIIm/ U0 1,86 1,83 1,80 1,77 1,74 1,71 1,65 1,61 1,57 1,54 1,49 1,45 1,42 1,40 1,37 1,36 1,29 1,26 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Tableau A.3 - Rapport de discrimination (D) et valeur limite de rejet (Uiim) pour le plan d'essai C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070 © IEC - 43 - p= r/ mu 13 =0,05 a =13 = a= 13 =0,20 D (inn" U0 D Ullm/ Uo D ulim/ u0 18,94 15,43 13,11 11,45 10,22 9,26 7,62 6,56 5,83 5,29 4,54 4,05 3,70 3,43 3,22 3,06 2,54 2,26 3,47 3,22 3,04 2,89 2,77 2,67 2,47 2,33 2,22 2,13 2,00 1,91 1,84 1,78 1,73 1,69 1,56 1,48 11,74 9,78 8,46 7,52 6,80 6,25 5,28 4,65 4,20 3,87 3,40 3,09 2,87 2,70 2,56 2,45 2,10 1,92 2,69 2,54 2,42 2,33 2,25 2,18 2,06 1,96 1,89 1,83 1,74 1,67 1,62 1,58 1,54 1,51 1,42 1,36 6,01 5,19 4,63 4,22 3,91 3,66 3,22 2,93 2,72 2,56 2,33 2,17 2,06 1,97 1,90 1,84 1,65 1,55 1,87 1,81 1,76 1,72 1,69 1,66 1,60 1,55 1,51 1,48 1,44 1,40 1,37 1,35 1,33 1,31 1,26 1,22 p= T'1m0 a= D 1,0 1,2 1,4 1,6 1,8 2,0 2,5 3,0 3,5 4,0 5,0 6,0 7,0 8,0 9,0 10,0 15,0 20,0 0,10 15,37 12,72 10,87 9,54 8,55 7,78 6,47 5,62 5,03 4,59 3,98 3,58 3,29 3,07 2,90 2,76 2,32 2,09 13 =0,05 a= =0,10 a =p = 0,20 Ullm / Uo D Ullm/ Uo D Ullm / U0 3,14 2,93 2,77 2,64 2,54 2,45 2,28 2,16 2,07 1,99 1,88 1,80 1,73 1,68 1,64 1,61 1,49 1,42 9,64 8,19 7,15 6,38 5,80 5,36 4,57 4,06 3,70 3,43 3,04 2,79 2,60 2,46 2,34 2,25 1,96 1,80 2,52 2,38 2,27 2,19 2,11 2,05 1,94 1,85 1,79 1,73 1,65 1,60 1,55 1,51 1,48 1,46 1,37 1,32 5,05 4,48 4,04 3,71 3,45 3,25 2,89 2,65 2,47 2,34 2,15 2,02 1,92 1,84 1,78 1,73 1,57 1,48 1,83 1,77 1,72 1,68 1,61 1,61 1,55 1,51 1,47 1,44 1,40 1,36 1,34 1,32 1,30 1,28 1,23 1,20 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 1,0 1,2 1,4 1,6 1,8 2,0 2,5 3,0 3,5 4,0 5,0 6,0 7,0 8,0 9,0 10,0 15,0 20,0 a= C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an - 44 - 1070 ©CEI Tableau A.4 - Limites d'acceptation (Ac) et de rejet (Re) pour le plan d'essai Table A.4 - Acceptance (Ac) and rejection (Re) limits for test plan Les directives sur le choix du paramètre de forme p sont données en 7.1 Les niveaux de risque (a et (3) sont traités l'article Les détails sur le plan d'essai sont donnés en 9.4 Guidelines on the selection of the shape parameter p are given in 7.1 The risk levels (a and (3) are dealt with in clause Details on test plan are given in 9.4 D= p= r a =13 =0,05 Ac( r) Re( r) 0,00 0,00 0,00 0,00 0,11 0,24 0,34 0,43 0,50 0,57 0,62 0,67 0,71 0,75 0,79 0,82 0,84 0,87 0,89 0,91 INF* INF INF INF 17,69 8,39 5,85 4,67 3,98 3,53 , 3,22 2,99 2,81 2,66 2,55 2,45 2,37 2,30 2,24 2,19 Ac( r) 0,00 0,00 0,00 0,16 0,31 0,43 0,53 0,61 0,67 0,73 0,78 0,82 0,86 0,89 0,92 0,94 0,97 0,99 1,01 1,02 a =j3 =0,20 Re( r) Ac( r) Re( r) INF INF INF 0,00 0,00 0,28 0,47 0,60 0,70 0,78 0,84 0,90 0,94 0,98 1,01 1,03 1,06 1,08 1,10 1,11 1,13 1,14 1,15 INF INF 12,41 6,39 4,63 3,79 3,30 2,97 2,74 2,57 2,44 2,34 2,25 2,18 2,12 2,07 2,03 1,99 1,95 7,17 4,29 3,33 2,85 2,56 2,37 2,23 2,13 2,05 1,99 1,93 1,89 1,85 1,82 1,80 1,77 1,75 1,73 D= p= r 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 a = a =j3 =0,10 j3=0,05 a = 13 =0,20 Ac( r) Re( r) Ac( r) Re( r) Ac( r) Re( r) 0,00 0,00 0,17 0,32 INF* 0,00 0,11 0,32 0,47 0,59 0,68 0,75 0,81 0,86 0,91 0,94 0,97 1,00 1,03 1,05 1,07 1,09 1,10 1,12 1,13 INF INF INF 0,00 0,35 0,56 0,71 0,81 0,89 0,95 0,99 1,03 1,06 1,09 1,12 1,14 1,15 1,17 1,18 1,20 1,21 1,22 1,23 INF INF 0,44 0,53 0,61 0,68 0,73 0,78 0,82 0,86 0,89 0,92 0,95 0,97 0,99 1,01 1,03 1,05 INF INF INF 13,64 6,66 4,76 3,87 3,35 3,02 2,78 2,61 2,47 2,36 2,28 2,20 2,14 2,09 2,04 2,01 * INF signifie qu'aucun rejet n'est possible dans ce cas ` INF signifies no rejection possible for this case Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn 9,68 5,17 3,84 3,21 2,84 2,60 2,42 2,30 2,20 2,12 2,05 2,00 1,96 1,92 1,88 1,86 1,83 5,75 3,58 2,86 2,50 2,29 2,14 2,04 1,96 1,90 1,85 1,82 1,78 1,76 1,73 1,71 1,69 1,68 1,66 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 a =j3 =0,10 C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070 © IEC - 45 - D= a= j3 r =0,05 Ac( r) 0,04 0,26 0,42 0,54 0,64 0,72 0,78 0,83 0,88 0,92 0,95 0,99 1,01 1,03 1,05 1,07 1,09 1,10 1,12 1,13 a= = 0,10 Re( r) INF.' INF INF INF 11,21 5,63 4,10 3,39 2,98 2,71 2,52 2,38 2,27 2,19 2,12 2,06 2,01 1,97 1,93 1,90 Ac( r) 0,12 0,37 0,55 0,67 0,76 0,84 0,89 0,94 0,98 1,02 1,05 1,07 1,09 1,11 1,13 1,15 1,16 r a= j3 Ac( r) 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 0,00 0,09 0,51 0,79 1,00 1,15 1,27 1,37 1,45 1,51 1,57 1,62 1,66 1,70 1,73 1,76 1,78 1,80 1,82 1,84 Re( r) Ac( r) Re( r) INF INF INF 0,28 0,57 0,74 0,86 0,94 1,00 1,05 1,09 1,12 1,15 1,17 1,19 1,20 1,22 1,23 1,24 1,25 1,26 1,27 1,28 INF INF 8,04 4,43 3,37 2,87 2,57 2,37 2,24 2,13 2,05 1,99 1,94 1,90 1,86 1,83 1,80 1,78 1,76 1,17 1,19 1,20 D= a =0= 0,20 p= =0,05 a =13 =0,10 Re( r) Ac( r) INF* 0,00 0,39 0,80 1,06 1,24 1,37 1,48 1,56 1,62 1,67 1,72 1,76 1,79 1,82 1,84 1,87 1,89 1,91 1,92 1,94 55,32 9,84 6,31 5,01 4,34 3,93 3,65 3,45 3,30 3,18 3,09 3,01 2,95 2,89 2,85 2,81 2,77 2,74 2,71 4,89 3,16 2,59 2,30 2,13 2,01 1,93 1,87 1,82 1,78 1,75 1,72 1,70 1,68 1,66 1,65 1,64 1,63 INF signifie qu'aucun rejet n'est possible dans ce cas INF signifies no rejection possible for this case Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn a =j3 =0,20 Re( r) Ac( r) Re( r) INF 0,15 0,85 1,20 1,41 1,55 1,65 1,72 1,78 1,83 1,86 1,90 1,92 1,94 1,96 1,98 2,00 2,01 2,02 2,03 2,04 32,89 5,88 4,16 3,54 3,23 3,03 2,90 2,81 12,75 6,27 4,72 4,03 3,64 3,39 3,21 3,09 2,99 2,91 2,84 2,79 2,75 2,71 2,68 2,65 2,62 2,60 2,58 2,74 2,68 2,64 2,60 2,57 2,55 2,52 2,50 2,49 2,47 2,46 2,45 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 p= C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070 © CEI - 46 - D= r a =13 =0,10 0,05 Ac( r) Re( r) 0,06 0,62 0,96 1,19 1,35 1,47 1,57 1,64 1,71 1,76 1,80 1,84 1,87 1,90 1,92 1,94 1,96 1,98 2,00 2,01 42,23 8,09 5,42 4,44 3,93 3,61 3,40 3,25 3,14 3,05 2,97 2,92 2,87 2,82 2,79 2,76 2,73 2,71 2,68 INF' Ac( r) 0,28 0,86 1,19 1,40 1,54 1,65 1,73 1,79 1,84 1,88 1,92 1,95 1,97 1,99 2,01 2,03 2,05 2,06 2,07 2,08 D= r a = 13 Ac( r) 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 0,50 0,99 1,28 1,47 1,61 1,71 1,79 1,85 1,90 1,94 1,98 2,01 2,03 2,06 2,08 2,10 2,11 2,13 2,14 2,15 =0,05 a =j3 =0,20 Re( r) Ac( r) Re( r) INF 0,67 1,23 1,51 1,68 1,78 1,86 1,92 1,96 2,00 2,03 2,05 2,07 2,09 2,11 2,12 2,13 2,14 2,15 2,16 2,17 25,40 5,10 3,79 3,32 3,08 2,93 2,83 2,76 2,70 2,66 2,63 2,60 2,58 2,56 2,54 2,52 2,51 2,50 2,49 2,48 10,27 5,39 4,22 3,69 3,39 3,20 3,07 2,97 2,89 2,83 2,79 2,75 2,71 2,68 2,66 2,64 2,62 2,60 2,58 p= a =13 =0,10 a=j3=0,20 Re( r) Ac( r) Re( r) Ac( r) Re( r) INF* 0,70 1,20 1,48 1,65 1,77 1,85 1,92 1,97 2,01 2,04 2,07 2,10 2,12 2,14 2,15 2,17 2,18 2,19 2,20 2,21 8,80 4,88 3,94 3,52 3,27 3,12 3,01 2,93 2,87 2,82 2,78 2,75 2,72 2,70 2,68 2,66 2,64 2,63 2,62 INF 1,04 1,51 1,74 1,88 1,97 2,03 2,08 2,11 20,91 4,65 3,60 3,21 3,02 2,90 2,82 2,76 2,71 2,68 2,64 2,63 2,61 2,59 2,58 2,57 2,56 2,55 2,54 2,53 34,38 7,05 4,91 4,11 3,70 3,45 3,28 3,16 3,06 2,99 2,93 2,89 2,85 2,81 2,78 2,76 2,74 2,72 2,70 INF signifie qu'aucun rejet n'est possible dans ce cas ' INF signifies no rejection possible for this case Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn 2,14 2,17 2,19 2,20 2,22 2,23 2,24 2,25 2,26 2,26 2,27 2,28 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 a =(3 = p= C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070 ©IEC - 47 - Page blanche - Blank page - LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an - 48 - 1070 ©CEI Annexe B (informative) Exemples numériques Premier exemple Le premier exemple suppose que le plan d'essai 1: Nombre fixe de défaillances (voir 9.1), est souhaité pour distinguer entre U0 = 0,01 et U1 = 0,05 Dans la distribution du temps d'indisponibilité, on suppose que p = On suppose également que a = 0,10 et que f = 0,05 Ensuite, voir la première inégalité de 9.1 et les valeurs données dans le tableau suivant peuvent être calculées (voir 9.1): 10 n Fi _a(2pn,2n) x Fi _p (2n,2pn) 3,15 6,40 5,17 [Par exemple, pour n = 10, (1,71) (1,84) = 3,15] En conséquence, il convient d'effectuer les essais jusqu'à ce que se produisent cinq défaillances et rétablissements et, ensuite, de rejeter si Y/ T est plus grand que: (2,20) (0,01/0,99) = 0,0222 où Yet T sont, respectivement, les temps cumulés d'indisponibilité et de disponibilité Second exemple Cet exemple suppose que le plan d'essai 2: Temps fixe (voir 9.2), est souhaité pour essayer U0 = 0,10 en utilisant D = Les temps d'indisponibilité sont supposés suivre une distribution exponentielle (p = 1) et les risques a et 13 sont fixés 0,05 En remplaỗant dans la formule pour T* dans le plan d'essai 2, (1,645) -‘fd - + T*= mu (1+1 -^ = mu (2) (1,645) (0,8) -If ,^g (1) [1s6o6+19618 = 24,8 mu Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU D (1 - U0 ) / (1 - DU0) = (5) (0,99) / (0,95) = 5,2105 C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070 ©IEC - 49 Annex B (informative) Numerical examples First example The first example will assume that Test plan 1: Fixed number of failures (see 9.1) is desired to distinguish between U0 = 0,01 and U1 = 0,05 For the down time distribution p = is assumed Also a = 0,10 and R 0,05 are assumed Then see the first inequality of 9.1 (1 - U0) / (1 - DU() ) = (5) (0,99) / (0,95) = 5,2105 and the following table can be calculated (see 9.1) : 10 n Fi _a (2pn,2n) x Fi _0 (2n,2pn) [For example, for n = 3,15 6,40 5,17 10, (1,71)(1,84) = 3,15] Therefore, one would test until five failures and restorations had occurred and then reject if Y/ T is greater than: (2,20) (0,01/0,99) = 0,0222 where Y and T are the accumulated down time and up time respectively Second example: This example will assume that Test plan 2: Fixed time (see 9.2) is desired to test U0 = 0,10 using D = The down times are assumed to be exponentially distributed (p = 1) and both a and (3 risks are set at 0,05 Substituting in the formula for T* in test plan 2, (1,645) ■Ï0,9 + T* = m (1 +1-^ (1,645) (0,8) 46,§ (1) - mu (2) [1 5606 + 1,9618 ^ = 24,8 mu Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn Z }2 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU D C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an -50- 1070©CEI Egalement, (0,10) [(1,645)(2)(1-0,10) + (1,645)(4) (1-(2)(0,10))] Vlim - [1,645 (1-0,10) + (1,645) (-Tf)(1-(2)(0,10))] Uiim = 0,2288 c'est-à-dire, rejet de U0 si Y/(Y+ T) > 0,2288 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an 1070 ©IEC - 51 - Also, (0,10) [(1,645)(2)(1-0,10) + (1,645)(0 (1-(2)(0,10))] Ulim - [1,645 (1-0,10) + (1,645) A(1- (2)(0,10))] Ulim = 0,2288 i.e., reject U0 if Yl( Y + T) > 0,2288 LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an - 52 - 1070 ©CEI Annexe C / Annex C (informative) Bibliographie / Bibliography [1] Hâllgren, Bengt Availability compliance testing of systems with long mean time between failures, Reliability Engineering, 15 (1986), pp 83-94 Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU [2] Rise, Jan L Compliance test plans for availability, Proc 1979 Annual Reliability and Maintainability Symposium, Jan 23-25, 1979, Washington, DC, ISSN 0149-144X, pp 368-373 C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an LICENSED TO MECON Limited - RANCHI/BANGALORE FOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY, SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn C.vT.Bg.Jy.Lj.Tai lieu Luan vT.Bg.Jy.Lj van Luan an.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an.Tai lieu Luan van Luan an Do an Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhd.vT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.LjvT.Bg.Jy.Lj.dtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn.Stt.010.Mssv.BKD002ac.email.ninhddtt@edu.gmail.com.vn.bkc19134.hmu.edu.vn